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詳細摘要： 磁粉探傷儀CDX-III型CDX－III磁粉探傷儀是我公司吸收國內外同類產品的優(yōu)點自行設計生產的新型磁粉探傷設備

詳細摘要： 一、簡介該儀器采用計算機技術，符合國標GB/T6062及ISO，DIN，ANSI和JIS四項標準，可以廣泛適用于生產現(xiàn)場，可測量多種機加工零件的表面粗糙度，根據(jù)...

詳細摘要： ARD8103粗糙度儀儀器特點：●采用ARM處理器

詳細摘要： 一、涂層測厚儀MC-2000C產品概述MC-2000C型涂層測厚儀（鍍層測厚儀）是*的結晶,它采用單片機技術，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、...

詳細摘要： MCW-2000B渦流涂層測厚儀一、渦流涂層測厚儀MCW-2000B型產品概述MCW-2000B型（渦流）涂層測厚儀是*的結晶,它采用單片機技術，精度高、數(shù)字顯...

詳細摘要： 超聲波探傷儀采用數(shù)字集成和人工智能技術，各項性能指標均達標，功能實用，是模擬儀器升級換代經濟型的數(shù)字式超聲波探傷儀

詳細摘要： 涂層測厚儀MC-2000A型MC-2000A型涂層測厚儀（鍍層測厚儀）是*的結晶,它采用單片機技術，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕...

詳細摘要： 涂層測厚儀MC-2000C型MC-2000C型涂層測厚儀（鍍層測厚儀）是*的結晶,它采用單片機技術，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、...

詳細摘要： 涂層測厚儀MC-2000D型MC-2000D型涂層測厚儀（鍍層測厚儀）是*的結晶,它采用單片機技術，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、...

詳細摘要： 涂層測厚儀MC-2010A型MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀采用單片機技術，測量精度高、數(shù)字顯示、操作簡單方便、觸摸按鍵、內置探頭全量程測量、體積小、重量輕;...

詳細摘要： （渦流）涂層測厚儀MCW-2010A型MCW-2010A型（渦流）涂層測厚儀采用抗干擾技術、測量精度高、數(shù)字顯示、功耗低、內置探頭全量程測量、機型小巧、操作簡捷...

詳細摘要： （渦流）涂層測厚儀MCW-2000B型MCW-2000B型（渦流）涂層測厚儀是*的結晶,它采用單片機技術，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、無校...

詳細摘要： 超聲波測厚儀HCH-2000C+型HCH-2000C+型超聲波測厚儀內部電路采用數(shù)字電子技術與微電腦技術，外部采用金屬機殼制造而成，儀器體積小、功耗低、功能強、...

詳細摘要： 超聲波測厚儀HCH-2000C型HCH-2000C型超聲波測厚儀內部電路采用數(shù)字電子技術與微電腦技術，外部采用金屬機殼制造而成，儀器體積小、功耗低、功能強、抗摔...

詳細摘要： 超聲波測厚儀HCH-2000D型HCH-2000D型超聲波測厚儀內部電路采用數(shù)字電子技術，具有體積小、功耗低、穿透力強、抗摔打、抗振動、示值穩(wěn)定、觸摸按鍵、檢測...

詳細摘要： 全數(shù)字超聲波探傷儀ACT-1105型新推出的ACT-1105是一種*的數(shù)字式超聲探傷儀，采用嵌入式計算機系統(tǒng)和超大規(guī)模現(xiàn)場可編程集成電路設計，具有多顏色的TFT...

詳細摘要： 超聲波探傷儀ACT-1100型☆DAC、AVG曲線自動生成

詳細摘要： 粗糙度儀ARD-8103型●采用ARM處理器

詳細摘要： 粗糙度儀ARD-8101型該儀器采用計算機技術，符合國標GB/T6062及ISO，DIN，ANSI和JIS四項標準，可以廣泛適用于生產現(xiàn)場，可測量多種機加工零件...